اخبار و اعلانات
آمار
| تعداد نشریات | 38 |
| تعداد شماره‌ها | 1,260 |
| تعداد مقالات | 9,131 |
| تعداد مشاهده مقاله | 8,464,462 |
| تعداد دریافت فایل اصل مقاله | 5,164,923 |
طراحی و ساخت چیدمان موجبری اندازه گیری مشخصات الکترومغناطیسی بدون استفاده از قاب نگهدارنده نمونه در باند C | ||
| الکترومغناطیس کاربردی | ||
| مقاله 1، دوره 4، شماره 3، آبان 1395، صفحه 1-10 اصل مقاله (1.39 M) | ||
| نویسندگان | ||
| فرید نظری* 1؛ هادی علی اکبریان2؛ سهیل رادیوم3 | ||
| 1صنعتی خواجه نصیر طوسی | ||
| 2صنعتی خواجه نصیرالدین طوسی | ||
| 3پژوهشگاه فضایی ایران | ||
| تاریخ دریافت: 15 آبان 1396، تاریخ بازنگری: 06 اسفند 1397، تاریخ پذیرش: 28 شهریور 1397 | ||
| چکیده | ||
| چکیده: تعیین خصوصیات ماده با استفاده از موجبر مستطیلی نیازمند یک قاب نگهدارنده نمونه و یک روش پیچیده جهت آمادهسازی نمونه میباشد. در این مقاله با تغییراتی در روش معمول موجبری برای اندازهگیری ضریب گذردهی الکتریکی و حذف قاب نگهدارنده، نشان داده میشود که روش معمول کالبیراسیون TRL و الگوریتم NRW برای بهدستآوردن ثابت دیالکتریک و تانژانت تلفات با شرایطی قابل استفاده می باشد. در ادامه، این روش برای اندازهگیریهای باند C برای مواد مختلف شبیهسازی و سپس پیادهسازی شده است. برای مواد با ضخامت کم دقت روش بهتر میباشد و تا ضخامت 35/0 (طول موج در ماده تحت اندازهگیری) نتایج مناسب میباشد. میزان خطای اندازهگیریشده در این روش برای نمونه زیرلایه با ثابت دیالکتریک 3 و ضحامت mm 5/1 در حالت شبیهسازی تمام موج کمتر از 8 % و در اندازهگیری قسمت حقیقی ثابت دیالکتریک کمتر از 15 % بهدست آمده است. | ||
| کلیدواژه‌ها | ||
| اندازهگیری ضریب دیالکتریک؛ کالیبراسیون TRL؛ مشخصات ماده؛ الگوریتم NRW؛ ضریب نفوذپذیری | ||
| عنوان مقاله [English] | ||
| Design and Fabrication of Dielectric Constant Measurement Setup without Sample Holder in C band Motor | ||
| چکیده [English] | ||
| Characterization of dielectric materials by using rectangular waveguide method usually requires a sample holder frame and a complex procedure of preparing and fixing the sample. In this paper, by removing the sample holder, the conventional waveguide method is made faster and simpler. It is shown that the conventional TRL calibration method together with NRW algorithm is able to obtain dielectric constant and loss tangent. The method is fully studied for different materials in a C band measurement setup. It is shown that for materials with lower thickness, the precision of the method up to a thickness of 0.35 λ_g (wavelength of matter under test) is acceptable. The simulation and the measurement error of a 1.5mm substrate with a dielectric constant of 3 are less than 8% and 15% respectively. | ||
| کلیدواژه‌ها [English] | ||
| Dielectric Constant Measurement, TRL Calibration, Material Characterization, NRW Algoritm, Permeability | ||
| مراجع | ||
|
[1] D. J. Kozakofi, “Analysis of Radome Enclosed Antennas,” Artech House, Norwood, MA, 1997.## [2] S. Li, C. Akyel, and R. G. Bosisio, “Precise calculations and measurement on the complex dielectric constant of lossy materials using TM010 perturbation techniques,” IEEE Trans. Microw. Theory Tech., vol. 29, no. 10, pp. 1041–1048, Oct. 1981.## [3] A. Rashidian, M. T. Aligodarz, and D. M. Klymyshyn, “Dielectric Characterization of Materials using a Modified Microstrip Ring Resonator Technique,” IEEE Trans. Dielectrics and Electrical Insulation, vol. 19, no. 4, pp. 1392–1399, Aug. 2012.## [4] S. Bakhtiari, S. Ganchev, and R. Zoughi, “Open-ended rectangular waveguide for nondestructive thickness measurement variation detection of lossy dielectric slab backed by a conducting plate,” IEEE Trans. Instrum. Meas., vol. 42, no. 1, pp. 19–24, Feb. 1993.## [5] S. K. Ng et al., “An Automated Microwave Waveguide Measurement Technique,” in Proc. 38th European Microwave Conf., Amsterdam, The Netherlands, pp. 1322–1325, Oct. 2008.## [6] V. H. Nguyen et al., “Measurement of complex permittivity by rectangular waveguide method with simple specimen preparation,” Advanced Technologies for Communications (ATC), 2014 International Conference on. IEEE, pp. 397-400, 2014.## [7] N. Chen et al., “Development of a temperature dependent dielectric constant measurement system,” IEEE 6th International Symposium on Microwave, Antenna, Propagation, & EMC Technologies (MAPE), Shanghai, China, pp. 652-655, 2015.## [8] Z. Qiu, X. Li, and W. Jiang, “On stability of formulation of open-ended coaxial probe for measurement of electromagnetic properties of finite-thickness materials,” J. Electromagn. Waves Appl., vol. 23, no. 4, pp. 501-511, 2009.## [9] Application Note, “Agilent Basics of Measuring the Dielectric Properties of Materials,” Agilent Literature Number 5989-2589EN, June 2006.## [10] J. Krupka, “Frequency domain complex permittivity measurements at microwave frequencies,” Meas. Sci. Technol., vol. 17, no. 6, pp. R55–R70, June 2006.## [11] “Applying the HP 8510 TRL calibration for noncoaxial measurements,” Product Note 8510-8A, 1992.## [12] K. C. Yaw, “Measurement of Dielectric Material Properties,” Singapore: Rohde & Schwarz, 2012.## | ||
|
آمار تعداد مشاهده مقاله: 860 تعداد دریافت فایل اصل مقاله: 373 |
||