تحلیل تاثیرپذیری الکترومغناطیسی خطوط ریزنوار ابررسانا در تابش مایل | ||
| الکترومغناطیس کاربردی | ||
| دوره 9، شماره 1 - شماره پیاپی 22، اردیبهشت 1400، صفحه 51-54 اصل مقاله (365.9 K) | ||
| نوع مقاله: مقاله پژوهشی | ||
| نویسندگان | ||
| محمدحسین امینی1؛ علیرضا ملاح زاده* 2 | ||
| 1دانشجوی دکتری، گروه مهندسی برق و الکترونبک، دانشگاه شاهد، تهران، ایران | ||
| 2دانشیار، گروه مهندسی برق و الکترونیک، دانشکده فنی و مهندسی، دانشگاه شاهد، تهران، ایران | ||
| چکیده | ||
| مدارهای مایکروویو ابررسانا از عنصرهایی متشکل از خطوط انتقال ابررسانا ساخته میشوند. هر چند که ابررساناها عملکرد سامانه را در سرعت بالا و کف نویز پایین فراهم میکند، اما تزویج میدان الکترومغناطیسی خارجی به آنها میتواند در عملکرد این سیستمها اختلال بهوجود آورد. در این مطالعه ابتدا در حوزه طیفی یک رهیافت کلی جهت تحلیل رفتار الکترومغناطیسی ساختارهای ابررسانا در زوایای تابش مختلف ارائه میشود. سپس به کمک روش ارائه شده، تاثیرپذیری خطوط ریزنوار ابررسانا در تابش مایل مورد بررسی قرار میگیرد. این بررسی اثر ضخامت فیلم ابررسانا بر تاثیرپذیری خط را شامل میشود. مطابق با نتایج حاصل شده، بیشینه حساسیتپذیری برای تمام ضخامتها با توجه به طول معمول بهکار رفته در مدارات، در تابش با زاویه 80 درجه اتفاق میافتد اما مقدار آن برای ضخامتهای مختلف متفاوت است. رفتار متفاوت جریان القایی در ضخامتهای مختلف بهعلت تفاوت در امپدانس معادل ساختار است. همچنین از آنجا که برای فیلمهای نازک راکتانس معادل بیشتر است، میزان حساسیتپذیری کمتر میگردد. | ||
| کلیدواژهها | ||
| تاثیرپذیری؛ ابررسانایی؛ حوزه طیفی؛ روش ممان | ||
| مراجع | ||
|
| ||
|
آمار تعداد مشاهده مقاله: 503 تعداد دریافت فایل اصل مقاله: 507 |
||