اخبار و اعلانات
آمار
| تعداد نشریات | 34 |
| تعداد شماره‌ها | 1,306 |
| تعداد مقالات | 9,427 |
| تعداد مشاهده مقاله | 9,188,258 |
| تعداد دریافت فایل اصل مقاله | 5,620,718 |
تعیین زمان مرده در آشکارسازهای تک فوتون شکست بهمنی | ||
| مجله نوآوری های فناوری اطلاعات و ارتباطات کاربردی | ||
| مقالات آماده انتشار، پذیرفته شده، انتشار آنلاین از تاریخ 18 اسفند 1403 | ||
| نوع مقاله: مقاله پژوهشی | ||
| نویسنده | ||
| مهدی رحمان پور* | ||
| مالک اشتر الکترونیک ارتباطات کوانتوم | ||
| تاریخ دریافت: 07 آبان 1403، تاریخ بازنگری: 17 بهمن 1403، تاریخ پذیرش: 01 اسفند 1403 | ||
| چکیده | ||
| زمان مرده به بازه‌ای از زمان اطلاق می‌شود که در آن آشکارساز تک فوتون به دلیل اثرات ناشی از تشخیص فوتون ورودی و فرایند بازنشانی، قادر به تشخیص فوتون جدیدی نمی‌باشد. به دلیل اهمیت نقش زمان مرده در محدودیت فرکانس تشخیص آشکارسازهای تک فوتون شکست بهمنی و ایجاد محدودیت در نرخ تبادل در سیستم‌های مختلفی مانند توزیع کلید کوانتومی، اندازه‌گیری این مشخصه در آشکارسازهای تک فوتون با اهمیت است. در روش پیشنهادی این تحقیق، برای اندازه‌گیری زمان مرده در آشکارسازهای تک فوتون، از یک تراشه FPGA استفاده می‌شود. مدل FPGA پیشنهاد شده XC7A35T از خانواده Artix متعلق به شرکت Xilinx می‌باشد. با کمک کد طراحی سخت‌افزار VHDL، مداری برای تست آشکارساز طراحی می‌شود و با کنترل هم‌زمان منبع تولید تک فوتون و آَشکارساز، امکان تعیین زمان مرده را روی SPAD فراهم می‌کند. | ||
| کلیدواژه‌ها | ||
| آشکارساز؛ تک فوتون؛ کوانتوم؛ توزیع کلید؛ زمان مرده | ||
| عنوان مقاله [English] | ||
| Determination of dead time in single photon avalanche detector | ||
| نویسندگان [English] | ||
| Mahdi Rahmanpour | ||
| Malek-e-ashtar Electronic Communication Quantum | ||
| چکیده [English] | ||
| Dead time refers to a period of time in which the single photon detector is not able to detect a new photon due to the effects caused by the detection of the incoming photon and during the reset process. Due to the importance of the role of dead time in limiting the detection frequency of single-photon avalanche detectors and limiting the exchange rate in various systems such as quantum key distribution, measuring this characteristic in single-photon detectors is important. In the proposed method of this research, an FPGA chip is used to measure the dead time in single photon detectors. The proposed FPGA model is XC7A35T from the Artix family owned by Xilinx. A circuit is designed for the detector test using VHDL hardware design code and it provides the possibility of determining the dead time on the SPAD by controlling the single photon production source and the detector simultaneously. | ||
| کلیدواژه‌ها [English] | ||
| Detector, Single photon, Quantum, Key Distribution, Dead time | ||
| مراجع | ||
|
| ||
|
آمار تعداد مشاهده مقاله: 194 |
||